All translations
Enter a message name below to show all available translations.
Found 3 translations.
| Name | Current message text |
|---|---|
| h English (en) | Before any imaging could be done, the sample was stained with heavy metals. When the scanning electron microscope's electrons collided with the heavy metals in the sample, they would bounce off and they would be collected by a detector. These electrons that bounce off the sample are known as backscattered electrons. After being placed inside the chamber of the microscope, the surface of the sample is imaged. Because the Scanning Electron Microscope uses a tightly focused beam of electrons, the sample needs to be scanned in a certain pattern. The Scanning Electron Microscope will move across a line, scanning it one piece at a time, and then it will move onto the next line. This is known as raster-scanning. |
| h Spanish (es) | Antes de que se pudiera realizar cualquier imagen, la muestra se tiñó con metales pesados. Cuando los electrones del microscopio electrónico de barrido chocaban con los metales pesados en la muestra, rebotaban y eran recogidos por un detector. Estos electrones que rebotan en la muestra se conocen como electrones retrodispersados. Después de colocarse dentro de la cámara del microscopio, se toma una imagen de la superficie de la muestra. Debido a que el microscopio electrónico de barrido utiliza un haz de electrones muy concentrado, la muestra debe escanearse en un determinado patrón. El microscopio electrónico de barrido se moverá a través de una línea, escaneando una pieza a la vez, y luego se moverá a la siguiente línea. Esto se conoce como raster-scan. |
| h Korean (ko) | 이미지를 만들기전에 시료는 중금속으로 고정되어야 합니다. 주사전자현미경의 전자들이 시료의 중금속과 충돌하면, 튕겨져나와서 검출기를 통해 수집됩니다. 이렇게 시료에 충돌하여 튕겨져나온 전자들을 반사전자라고 부릅니다. 현미경의 시료실에 놓여진 시료의 표면이 이렇게 이미지가 됩니다. 주사전자현미경은 굉장히 집중된 전자 광선을 사용하기 때문에 시료는 일정한 패턴으로 스캔되어야 합니다. 주사전자현미경은 직선으로 움직이고, 한번에 한 줄을 스캔한 다음, 다음 줄로 이동합니다. 이것을 래스터 주사(raster-scanning)이라고 합니다. |
