Translations:Serial block-face scanning electron microscopy (SBFSEM)/4/ko

이미지를 만들기전에 시료는 중금속으로 고정되어야 합니다. 주사전자현미경의 전자들이 시료의 중금속과 충돌하면, 튕겨져나와서 검출기를 통해 수집됩니다. 이렇게 시료에 충돌하여 튕겨져나온 전자들을 반사전자라고 부릅니다. 현미경의 시료실에 놓여진 시료의 표면이 이렇게 이미지가 됩니다. 주사전자현미경은 굉장히 집중된 전자 광선을 사용하기 때문에 시료는 일정한 패턴으로 스캔되어야 합니다. 주사전자현미경은 직선으로 움직이고, 한번에 한 줄을 스캔한 다음, 다음 줄로 이동합니다. 이것을 래스터 주사(raster-scanning)이라고 합니다.