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SBEM: El microscopio electrónico para bloques en serie (Serial Block Electron Microscopy o Serial Block Face Electron Microscopy (SBFSEM)) se desarrolló para visualizar neuronas específicamente. Luego de teñir la muestra con un metal pesado, se coloca en el SEM. Se captura la superficie de la muestra y después se elimina, con lo que se expone la capa inferior a la que se acaba de capturar. Pese a la alta efectividad del proceso, éste destruye la muestra: si hay un error, no se puede enmendar. Los desfases (misalignments) provienen de tales equivocaciones.
