Difference between revisions of "Translations:Serial block-face scanning electron microscopy (SBFSEM)/4/es"

Latest revision as of 23:11, 19 July 2019

Before any imaging could be done, the sample was stained with heavy metals. When the scanning electron microscope's electrons collided with the heavy metals in the sample, they would bounce off and they would be collected by a detector. These electrons that bounce off the sample are known as backscattered electrons. After being placed inside the chamber of the microscope, the surface of the sample is imaged. Because the Scanning Electron Microscope uses a tightly focused beam of electrons, the sample needs to be scanned in a certain pattern. The Scanning Electron Microscope will move across a line, scanning it one piece at a time, and then it will move onto the next line. This is known as raster-scanning.

Antes de que se pudiera realizar cualquier imagen, la muestra se tiñó con metales pesados. Cuando los electrones del microscopio electrónico de barrido chocaban con los metales pesados ​​en la muestra, rebotaban y eran recogidos por un detector. Estos electrones que rebotan en la muestra se conocen como electrones retrodispersados. Después de colocarse dentro de la cámara del microscopio, se toma una imagen de la superficie de la muestra. Debido a que el microscopio electrónico de barrido utiliza un haz de electrones muy concentrado, la muestra debe escanearse en un determinado patrón. El microscopio electrónico de barrido se moverá a través de una línea, escaneando una pieza a la vez, y luego se moverá a la siguiente línea. Esto se conoce como raster-scan.